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ABNT NBR/NM: NBRIEC60749-33
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Dados do Protocolo
Tipo: Norma |
UF: BR | Ano: 2011 | Situação: Em vigor |
Data: 06/01/2011 | |||
| Ementa: Nbriec60749-33 - dispositivos semicondutores — métodos de ensaios mecânicos e climáticos - parte 33: resistência à umidade acelerada - autoclave sem polarização - o ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. este é um ensaio altamente acelerado, o qual impõe condições de pressão, umidade e temperatura sob condições de condensação que condicionam para acelerar a penetração da umidade através do material de proteção externo (encapsulamento ou selo) ou ao longo da interface entre o material de proteção externa e o condutor metálico passante. este ensaio é usado para identifi car mecanismos de falhas internas ao encapsulamento e é destrutivo. | |||||||