ABNT NBR/NM: NBRIEC60749-23
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Dados do Protocolo
Tipo: Norma |
UF: BR | Ano: 2012 | Situação: Em vigor |
Data: 26/07/2012 | |||
| Ementa: Nbriec60749-23 - dispositivos semicondutores — métodos de ensaio mecânico e climático - parte 23: ensaio de vida em alta temperatura - este ensaio é utilizado para determinar os efeitos da polarização e da temperatura ao longo do tempo nos dispositivos de estado sólido. simula a operação em um dispositivo de forma acelerada e destinase principalmente a qualificação e monitoração da confiabilidade dos dispositivos. uma forma de ensaio de vida em alta temperatura usando período curto de tempo, popularmente conhecido como burn-in, pode ser usado para detectar falhas relacionadas à mortalidade infantil. detalhes do uso e aplicação de burn-in não fazem parte do escopo desta norma. | |||||||